晶圓外觀檢查機

晶圓外觀檢查機

 

樣品樣式晶圓玻璃基板
尺寸範圍8“~12"wafer
精度要求最小檢出尺寸10╳10um
檢測專案外觀缺陷檢查(外物沾黏、髒汙、龜裂、刮傷…等等)

檢測方式Area scan
相機畫素5M
檢測精度3.5um
設備尺寸2500(長)╳1800(寬)╳2200(高)

進料方式Cassette 進料;Robot傳送
出料方式Cassette 進料;Robot傳送
Tact time200 sec/sheet (12")
操作模式Auto
控制方式PC

晶圓外觀檢查機.jpg